Brno.AI Meetup #4: Využití AI v mikroskopii I 10. 2. 2022

brno.aichytrebrno

Jako partner a podporovatel platformy BRNO.AI vás zveme na Meetup Využití AI v mikroskopii, který pořádá společně Český optický klastr, Ústav přístrojové techniky AV ČR a Brno.AI.

Zajímá vás téma umělé inteligence a jeho propojení s mikroskopií, která je městu Brnu tak blízká? Pak si nenechte ujít další meetup, který vás provede obecným vhledem do problematiky dnešní mikroskopie a vzájemné vnímání potenciálu pro umělou inteligenci. Dále se dozvíte, co všechno AI dokáže vyřešit, a poznáte její aplikace na příkladech a výsledcích z praxe. Cílem akce je inspirovat a propojit firmy nabízející technologie založené na umělé inteligenci využitelné v mikroskopii s firmami z oblasti mikroskopie a optiky.

Kdy?

10. 2. 2022, 10:00 – 12:00

Kde?

ÚPT AV ČR, Královopolská 147 Brno (mapa)

Pro koho je akce vhodná?

– pro firmy, které mají technologie založené na umělé inteligenci využitelné v mikroskopii a optice
– pro firmy z oblasti mikroskopie, zástupce Českého optického klastru
– pro zástupce výzkumné sféry, kteří nabízí technologie založené na umělé inteligenci využitelné v mikroskopii

Proč se zúčastnit?

Získáte přehled o trendech v oblasti mikroskopie a využití umělé inteligence. Navážete kontakty na partnery, kteří se podobné tématice věnuji, se kterými byste mohli spojit síly a zahájit dlouhodobější spolupráci vedoucí k inovacím v těchto oborech.

Program

Jan Neuman (NenoVision): Rozvoj mikroskopie s využitím umělé inteligence a zpracování obrazu
V rámci příspěvku ukážeme základní směřování rozvoje mikroskoskopických technik a ukážeme proč je využití umělé inteligence a pokročilého zpracování dat pro další rozvoj této oblasti nezbytné. V rámci přednášky také uvidíte příklady zpracování mikroskopických dat pomocí umělé inteligence a postupů posouvající oblast korelativní mikroskopie.

Jiří Materna (Machine Learning College): Využití umělé inteligence pro zpracování obrazu
V prezentaci si představíme možnosti využití umělé inteligence pro pokročilé zpracování snímků z mikroskopů a vše si demonstrujeme na praktických ukázkách řešení problémů segmentace a odstranění šumu, které vznikly v rámci společných projektů s Ústavem přístrojové techniky AV ČR.

Představení účastníků (každý účastník má 120 sekund na představení své společnosti a případných možností spolupráce)

Přednášející

Ing. Jan Neuman, Ph.D. (*1983) vystudoval obor Fyzikální inženýrství na Fakultě strojního inženýrství VUT v Brně, v roce 2015 získal doktorský titul v oblasti Fyzikální a materiálové inženýrství. V letech 2009–2014 se podílel na vzniku výzkumného centra CEITEC jako projektový manažer a později jako vedoucí oddělení podpory vědy a studia na VUT. Od roku 2014 je jednatelem společnosti Optik Instruments, distribuující analytické přístroje v Česku, Slovensku, Slovinsku a Chorvatsku. Od roku 2015 je spoluzakladatelem a výkonným ředitelem první CEITEC spin-off firmy NenoVision, zabývající se vývojem a prodejem AFM modulu pro elektronové mikroskopy. Je autorem odborných publikací, jednoho patentu a řešitelem řady mezinárodních projektů. S produktem LiteScope obdržela v roce 2016 společnost NenoVision Zlatou medaili na Mezinárodním strojírenském veletrhu v Brně.

Jiří Materna is a machine learning expert with machine learning experience in the industry since 2007. After finishing his PhD in NLP and AI, he worked as the head of research at Seznam.cz and now offers machine learning solutions and consulting as a freelancer. He is the founder and lecturer at Machine Learning College and the organizer of an international conference Machine Learning Prague.

Pro více informací KLIKNI ZDE